FSAC 1430 Physique T4 : électricité et magnétisme
Semaines 1 et 2 : Électrostatique
Liste des compétences particulières qui
doivent être acquises à la fin de cette séquence
1.
- identifier les propriétés fondamentales de la charge électrique,
notamment la conservation et la quantification de celle-ci.
- introduire le concept de champ électrique E et son unité.
- établir et illustrer par des exemples simples la relation entre le
potentiel électrique et le champ électrique, ainsi que la relation
entre le potentiel et la tension.
- définir la notion d’équipotentielle et interpréter une
représentation graphique du potentiel en termes de champ électrique.
- définir la notion de lignes de champ.
- connaître et justifier la loi que doit vérifier le champ électrique
pour qu'on puisse lui associer un potentiel.
- justifier la loi des mailles de Kirchhoff à partir des propriétés du
champ électrique.
- connaître et justifier la condition à laquelle le champ électrique E
doit satisfaire à l'interface entre deux milieux différents.
- rappeler la loi de Coulomb et la répartition du champ électrique
(et du potentiel) associée à une charge ponctuelle immobile dans le vide.
- énoncer et employer le principe de superposition pour calculer le champ
électrique E (et le potentiel) associé à un ensemble de charges.
- extrapoler l’application du principe de superposition pour des charges ponctuelles afin de
calculer le champ électrique (et le potentiel) associé à une charge
distribuée de façon continue sur un objet. Par exemple, pour un fil
rectiligne, un disque, un anneau, un demi-cercle, une plaque.
- distinguer les propriétés des conducteurs et des isolants.
- expliquer pourquoi le champ électrique à l’intérieur d’un conducteur
est nul à l’équilibre électrostatique.
- expliquer pourquoi le champ électrique est perpendiculaire à la surface d’un
conducteur à l’équilibre électrostatique.
- prédire la forme du champ électrique (et du potentiel) dans des structures
à forte symétrie comportant des conducteurs.
- Connaissant la forme d'une répartition de champ (ou de potentiel) et la tension
appliquée entre deux conducteurs, pouvoir déterminer la valeur du champ
électrique (et du potentiel).
- déduire la tension de claquage d'un dispositif de la rigidité
diélectrique.
- pouvoir interpréter correctement la donnée d'une tension nominale
monophasée ou triphasée.
- établir l'équation de la trajectoire d'une particule chargée dans un
champ électrique constant connu.
2.
- définir et interpréter la notion de flux du champ D à travers
une surface.
- rappeler la loi de Gauss dans le vide, son extension aux milieux quelconques et son
intérêt dans certains cas pour évaluer le champ électrique.
- introduire et utiliser la notion de permittivité diélectrique.
- employer la loi de Gauss pour calculer le champ électrique dans des
structures à symétrie cylindrique, sphérique ou planes, comportant
des conducteurs, du vide et/ou des diélectriques.
- définir la notion de tubes de flux et en rappeler les
propriétés ainsi que l’intérêt.
Pouvoir interpréter une représentation graphique des tubes de flux.
- connaître et justifier la condition à laquelle le champ D doit satisfaire
à l'interface entre deux milieux différents.
- employer le principe de superposition et la méthode des images pour calculer le
champ électrique dans certaines structures dissymétriques.
3.
- décrire la structure matérielle de condensateurs et le lien entre la
capacité de ceux-ci, leur géométrie et les
propriétés des matériaux qui les constituent.
- calculer la valeur de la capacité de condensateurs à symétrie
cylindrique, sphérique ou plane, constitués de conducteurs, du vide et/ou
de diélectrique.
- calculer l’énergie emmagasinée dans un condensateur de deux
façons différentes, d'une part à l'aide de relations de type circuit,
d'autre part par intégration spatiale d'une densité d'énergie.
- Introduire la notion de polarisation diélectrique et connaître son
intérêt pour faire le lien entre les propriétés macroscopiques
électriques (champs E et D, permittivité diélectrique...) de la
matière et sa structure microscopique.
Dernière mise à jour le 21-08-2003