Énergie solaire photovoltaïque
Semaine 10 : Modélisation des modules photovoltaïques
Modélisation électrique : influence de la température interne
La température interne des modules a une influence sur tous les éléments du modèle électrique. Le fait d'avoir modélisé ces éléments en faisant référence aux phénomènes physiques qu'ils représentent va nous aider à déterminer la façon dont la température peut les influencer.
Il faut bien remarquer que les expressions de la forme (S10-25)(S10-26) introduites à la page précédente, contrairement aux apparences, ne rendent pas compte de l'effet de la température parce que les coefficients Io qui y sont associés dépendent plus de la température que le facteur exponentiel. Ainsi, les courants ijonct augmentent avec la température alors que les formules (S10-25)(S10-26) suggèrent plutôt une réduction avec la température.
Effet de la température sur le courant de jonction dû à la diffusion
La dépendance du courant de jonction dû à la diffusion en fonction de la température est déduite du modèle de Shockley de la diode, soit
(S10-35) Io µ T3 exp ( - e Eg / (kT))
où T est la température absolue de la jonction et Eg la largeur (en V) de la bande interdite. A remarquer que l'exposant 3 dont le premier facteur est affecté n'est pas tout à fait exact, mais on s'en contente car c'est le second facteur qui est dominant.
La valeur de Eg dépend du matériau utilisé et de la température, comme nous l'avons déjà noté dans une des pages précédentes (S10P11).
Compte tenu de (S10-35), on écrit souvent le courant Io dans les expressions de la forme (S10-25)(S10-26) sous la forme
(S10-36) io = Ioref . (facteur de température)
où Ioref est la valeur de io à la température de référence, souvent à 25°C (soit 298.15°K).
On déduit alors facilement de (S10-35) l'expression du coefficient de température, soit
(S10-37) facteur de température = (Tjonct / Tref )3 exp [(e/k) (Egref /Tref - Eg/Tjonct )]
Le courant de jonction de diffusion ne dépend donc finalement que de deux paramètres empiriques, effet de température compris, à savoir Ioref et g .
Effet de la température sur les courants de jonction dus à la génération-recombinaison
Très souvent, la correction (S10-37) est utilisée pour tout le courant de jonction, en y introduisant éventuellement le facteur g de façon à obtenir [Nijs, 1998].
(S10-38) facteur de température = (Tjonct / Tref )3 exp [(e/ ( g k)) (Egref /Tref - Eg/Tjonct )]
Pourtant, les modèles de la physique des semi-conducteurs prévoient une dépendance très différente vis à vis de la température.
Ainsi, le terme correspondant à la génération-recombinaison dans la zone de déplétion, qui est de la forme (S10-25), a un coefficient de température de la forme
(S10-39) Io µ T5/2 exp ( - e Eg / (2kT))
On a aussi rapporté [Wolf & al., 1977] pour un terme de génération-recombinaison du à des états "trap" localisés, un terme de la forme (S10-25) avec une dépendance vis à vis de la température de la forme
(S10-40) Io µ T3/2 exp ( - e ..... / (kT))
Si l'on a identifié les courants ioj pour différentes températures, une façon d'identifier leur dépendance vis à vis de la température est de tracer le graphe du logarithme du courant en fonction du graphe du logarithme de 1/T . La pente de la courbe obtenue renseigne alors sur le type de phénomène en présence.
Exercice : examiner l'assertion ci-dessus.
Influence de la température sur la résistance Rs
La résistance Rs dépend elle aussi de la température.
L'habitude pour les résistances est de considérer seulement une variation du premier ordre par rapport à la température. La dépendance est alors caractérisée par un coefficient de température a :
(S10-41) Rs = Rso [ 1 + a (T - To )]
Dans le cas des métaux, le coefficient a est souvent positif et de l'ordre de l'inverse de la température absolue. Donc, à 25°C, ce coefficient est de l'ordre de
(S10-42) a » 1 / (273.15 + 25) = 0.00335 K-1 pour les métaux
Les valeurs réelles sont légèrement différentes (0.00431 pour le cuivre, 0.00408 pour l'argent).
Pour ce qui est des semiconducteurs, par contre, a est négatif.
Comme la résistance Rs est due aussi bien aux contributions de métaux (métallisations et connexions entre cellules) qu'aux semiconducteurs, des valeurs très différentes de a peuvent se rencontrer selon que l'un ou l'autre des phénomènes domine.
Détermination expérimentale des paramètres électriques
Déterminer la valeur de IL en fonction de l'éclairement est difficile expérimentalement car il faut disposer d'une source d'éclairement normalisée.
On peut par contre déterminer les autres paramètres du circuit électrique sur base d'expériences plus simples.
La connaissance de la température interne des modules est cependant elle aussi assez difficile. On peut contourner cette difficulté en insérant dans la série des essais expérimentaux des essais faits en isolant les modules du point de vue du rayonnement. Pour cela, il faut les couvrir, de sorte que la température interne est égale à la température à la surface du module. Attendre la nuit ne suffit pas pour obtenir ce résultat car, pendant la nuit, les modules peuvent rayonner des infrarouges et donc être plus froids que l'air ambiant.
Après avoir couvert les modules et attendu que l'équilibre thermique se réalise, on mesure la température (à leur surface ) et on relève leur caractéristique tension-courant. Ce relevé doit être fait rapidement car le module absorbe de l'énergie électrique pendant cet essai, et donc s'échauffe. L'utilisation d'un dispositif automatisé pour relever cette caractéristique n'est donc pas un luxe.
Pour pouvoir déterminer la dépendance des éléments vis à vis de la température, il faut répéter cette mesure pour plusieurs températures différentes.
Ces essais faits dans l'obscurité sont alors complétés par des essais effectués pour une température et un éclairement inconnu, mais stables.
La meilleure façon de procéder est d'utiliser un programme de régression non linéaire. Un tel programme est disponible auprès de E. Matagne, ainsi que via sa page personnelle
http://www.lei.ucl.ac.be/~matagne/matagne.html
On trouvera ci-dessous un exemple de routine à introduire dans ce programme pour calculer le courant. Cette routine permet de calculer, outre le courant imod , la puissance fournie ( umod imod ). Ce dernier résultat n'est pas utilisé dans la phase d'identification des paramètres, mais peut être utile par la suite pour exploiter le modèle.
FUNCTION analyse! (i%, noord1%)
'i% est le numéro de la donnée traitée
'noord1% est le numéro de la grandeur calculée
' 1 pour le courant du module
' 2 pour la puissance
'
'c(1) est le courant de fuite de diffusion de la jonction à 25°C
'c(2) est le courant de fuite de gén.-recombinaison de la jonction à 25°C
'c(3) est le coefficient de réduction de la jonction avec la tension
'c(4) est la résistance série
'c(5) est le coefficient de température de la résistance série
'c(6), c(8), c(10) ... est le courant photogénéré de la courbe considérée
'c(9), c(10), c(11) ... est la température de jonction de la courbe considérée
'
'esk! est le rapport charge de l'électron / constante de Boltzmann
'gap! est la largeur de bande interdite du matériau des cellules
'nbcell! est le nombre de cellules en série dans le module
'
nocourbe% = x(i%, 1)'numéro de la courbe
umod = x(i%, 2) 'tension du module
isol = c(4 + 2 * nocourbe%) 'courant photogénéré
tjonct = c(5 + 2 * nocourbe%) 'température de jonction
rser = c(4) * (1! + c(5) * (tjonct - 25))
tjonctab = tjonct + 273.15
gap! = gap0! - gapa! * tjonctab * tjonctab / (tjonctab + gapb!)
zut1 = expon!(esk! * (gapref! / 298.15 - gap! / tjonctab))
zut = tjonctab / 298.15
cortemp = zut * zut * zut * zut1
IF umod >= 0! THEN
ujonctbas = 0!
ujoncthaut = umod / nbcell! + isol * rser
ELSE
ujonctbas = umod
ujoncthaut = isol * rser
END IF
FOR iter% = 1 TO 20
ujonct = (ujoncthaut + ujonctbas) / 2!
GOSUB calcourdi
imod = isol - ijonct
umodt = (ujonct - rser * imod) * nbcell!
IF umodt > umod THEN
ujoncthaut = ujonct
ELSE
ujonctbas = ujonct
END IF
NEXT iter%
IF noord1% = 1 THEN
y1 = imod
GOTO finanal
ELSEIF noord1% = 2 THEN
y1 = imod * umod
GOTO finanal
ELSE
STOP
END IF
calcourdi: 'calcul du courant de la diode idéale
zut = ujonct * esk! / tjonctab
ijonct = c(1) * cortemp * (expon!(zut) - 1!)
rdeltaw = c(3) * ujonct
IF rdeltaw >= 1 THEN
corw = 0!
ELSE
corw = (1 - rdeltaw) ^ .33333
END IF
ijonct = ijonct + c(2) * corw * SQR(cortemp) * (expon!(zut / 2!) - 1!)
RETURN
finanal: analyse! = y1
END FUNCTION
Figure S10-20 : listing d'une routine de calcul utilisable pour déterminer les paramètres.
Détermination sur base des valeurs nominales
Si le fabricant du module fournit, outre les trois points à vide, en court-circuit et à puissance maximum, les coefficients de température du courant de court-circuit et de la tension à vide, il est possible d'en tenir compte pour la détermination des paramètres.
Plusieurs auteurs ont développé une procédure pour identifier les paramètres du modèle à 4 paramètres présenté à la page précédente. On peut en effet garder le même nombre de paramètres, malgré la disponibilité d'une information supplémentaire, en considérant le point à puissance maximale comme un point quelconque de la courbe (donc en oubliant le fait qu'il est à puissance maximale).
Références : Townsend(1989), Eckstein(1990), Duffie and Beckman(1991)
Le calcul proposé par ces auteurs est approché, mais rien n'empêcherait de trouver, par régression non linéaire, un jeu de paramètres satisfaisant exactement les données expérimentales retenues.
Page précédente |
Suite de la guidance |
Retour au menu de la semaine 10 |
Retour à la page d'accueil |
Besoin d'une précision ? |
Dernière mise à jour le 3-05-2004